正航儀器校準(zhǔn)方程
可根據(jù)實(shí)際情況選擇合適的校準(zhǔn)方程， 如理論a影響系數(shù)法，基本參數(shù)法，經(jīng)驗(yàn)a影響系數(shù)法等 .
但須注意校準(zhǔn)方程系數(shù)的個數(shù).每增加-個系數(shù).須增加3 個標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)樣品以確保該系數(shù)的可靠性. 理論a影響系數(shù)法的校準(zhǔn)方程參見附錄B。 校準(zhǔn)方程中各測量元素以表1 中氧化物的形式參與校正.
測量錳時，若儀器無法消除鉻對錳的譜線重疊影響·須校正鉻對錳的譜錢重疊影響.
10 樣品測量
10. 1 漂移校正
選擇合適的標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)樣品的熔片作為漂移校正熔片進(jìn)行儀器的漂移校正. 可采用單點(diǎn)校正或兩點(diǎn)校正，校正的間隔時間可根據(jù)儀器的穩(wěn)定性決定.
10.2 試樣熔片測量
按照儀器廠商的規(guī)定預(yù)熱儀器直至儀器定后. 按選定的測量條件測定試樣熔片. 若進(jìn)行儀器漂移校正，儀器穩(wěn)定后.先進(jìn)行漂移校正， 再進(jìn)行試樣熔片測定.
 
 
 
Cu——灼燒基下測量元素的含量，質(zhì)量分?jǐn)?shù)（% )，
L——灼燒減量，質(zhì)量分?jǐn)?shù)（% > .
對于含量在1%以上的成分.計算結(jié)果表示到小數(shù)點(diǎn)后兩位，含量在1% 以下的成分計算結(jié)果表示到兩位有校數(shù)字.
氧化物換算系數(shù)參見附錄C.
12 精密度
本標(biāo)準(zhǔn)的精密度是由8 個實(shí)驗(yàn)室測定，8 個水平試樣的結(jié)果按GB/T6379 . 2 統(tǒng)計確定的，精明度見表2 .
 
 
 
 
 
 
 
A.2  背景校正
一點(diǎn)法凈強(qiáng)度技式(A.l) 計算：
 
式中:
1. -一分析線凈強(qiáng)度：
'. -一-分析線峰值強(qiáng)度：
1, 分析線背景強(qiáng)度；
兩點(diǎn)法凈強(qiáng)度按式(A . 2) 計算；
 
式中：
1 .——峰的X 射線熒光凈強(qiáng)度；
1 ，一一峰的X 射線熒光總強(qiáng)度；
1刷、1 .一一分別為背景1.2處的X 射線熒光強(qiáng)度
ß ， .ß，一一分別為背景1.2的2o 角與峰位置2o 角之差.
A. 3 測量時間要求
各元素的測量時間按式(A.3) 計算
 
式中；
CV——測量元素的變異系數(shù)（%) . 指計數(shù)的相對變異
I.—— 峰值的測量強(qiáng)度
I.——背景的測量強(qiáng)度s
t.-一峰值的測量時間，
t.一一背景的測量時間t. - t.X U .l l ，)' ''.
變異系數(shù)要求見表1 ， 2 ，
根據(jù)中等濃度樣品的強(qiáng)度和相應(yīng)的C V 要求，計算出各成分的測量時間.
 
理論a 影響系數(shù)做法的校準(zhǔn)方程見式（B.1) ，
 
 
式中；
C;.C——測量元素和影響元素的分析值（% );
a. b——校準(zhǔn)曲線的斜率和截距；
a——影響元素對測量元素的理論a影響系數(shù)；
T——測量元素的X 射線熒光強(qiáng)度，
P——譜線重疊正系數(shù)；
1. ——重疊譜線的強(qiáng)度.